Вестник МГТУ, 2022, Т. 25, № 4.

Вестник МГТУ. 2022. Т. 25, № 4. С. 345-353. DOI: https://doi.org/10.21443/1560-9278-2022-25-4-345-353 методом взвешивания на весах с погрешностью не более ±5 г. Абсолютное давление в диапазоне от 15 до 102 кПа контролируют посредством измерения с пределом допускаемой основной абсолютной погрешности не более 0,2 кПа. Измеряемая среда - воздух или другой газ. Плюсовой провод питания подводят к выводу "3", общий провод питания - к выводу "1", выходное напряжение снимается с вывода "2". После этого определяется величина утечки полости датчика, которую проводят следующим образом: датчик подключают через штуцер к объему 77 см3. Схема испытаний приведена на рис. 1. Датчик считается выдержавшим испытание, если величина изменения давления в полости датчика не превысила 1,7 кПа за 30 с при давлении 25 кПа. Таблица 3. Метрологические характеристики средств измерения и параметры оборудования, применяемого для испытания датчика Table 3. Metrological characteristics of measuring instruments and parameters of the equipment used to test the sensor Тип оборудования и средства измерения Диапазон и предел погрешности Примечания Вольтметр универсальный цифровой тип В7-40/5 или аналогичный 0-20 В, + 0,1 Источник напряжения постоянного тока тип Б5-43А или аналогичный 0-16 В, ток не менее 200 mA, погрешность задания напряжения + 0 , 2 % Пульсации выходного напряжения не более 10 мВ Камера тепла до 125 + 3 °С Камера холода до минус 40 + 3 °С Пневмонасос 5-120 кПа Датчик давления, тип Р-10 0-1,15 кПа Секундомер 0-600 с, + 1 0 с Контроль выходного напряжения датчика проводят при температуре 45 + 5 °С на стенде, структурная схема которого соответствует рис. 1. Измеряются ивых датчика при контрольных значениях абсолютного давления. Датчик считается выдержавшим испытания, если значения ивых соответствуют номинальным параметрам. Контроль изменения выходного напряжения, вызванного изменениями температуры окружающей среды, проводят при давлении и температуре в соответствии с табл. 1, 2 на стенде. Далее датчик выдерживают при температурах -40, 0, +10, +85, +125 °С не менее 60 мин. Датчик должен находиться в рабочем состоянии (при поданном напряжении питания). Измеряются ивыхдатчика при каждом значении заданной температуры, не вынимая изделия из камеры, при контрольных значениях абсолютного давления. Датчик считается выдержавшим испытания, если его электрические параметры удовлетворяют номинальным требованиям. Испытания на теплостойкость и холодостойкость проводят при давлении и температуре в соответствии с табл. 1 , 2 на стенде следующим образом: прогрев и выдержку датчика производят в камере тепла при температуре 150 + 5 °С в течение 500 ч; охлаждение и выдержка датчика - в камере холода при температуре минус 50 + 3 °С в течение 96 ч. При этом датчик находится в нерабочем состоянии (напряжение питания не подано). После измеряются ивых датчика не менее чем через 1 ч после извлечения из камеры при контрольных значениях абсолютного давления после каждого вида испытаний. Контроль защиты датчика от перенапряжения проводят при напряжении питания 16,0 + 0,1 В. Выдерживается датчик при данном напряжении не менее 60 мин, после чего проверяются электрические параметры. Испытание на вибропрочность проводится по методу 103-1.1 ГОСТ 20.57.406-817при нижеследующих режимах испытаний: амплитуда перемещения 1,0 мм в диапазоне частот 25-50 Гц; амплитуда ускорения 98,1 м/с 2 + 20 % в диапазоне частот 50-500 Гц; продолжительность - 8 ч по каждому из трех взаимно перпендикулярных направлений по отношению к изделию. После испытания проводят контроль внешнего вида на соответствие требованиям и проверяют электрические параметры. Датчик считается выдержавшим испытания, если не произошло разрушения корпуса, электрические параметры соответствуют требованиям, а внешний вид удовлетворяет установленным требованиям. Испытание на ударопрочность проводится по методу 104-1 ГОСТ 20.57.406-818. Продолжительность - по 3 удара в трех взаимно перпендикулярных направлениях по отношению к изделию. Длительность удара 7 ГОСТ 20.57.406-81. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний. М., 2005. 8 Там же. 349