Труды КНЦ (Технические науки вып. 1/2024(15))

Труды Кольского научного центра РАН. Серия: Технические науки. 2024. Т. 15, № 1. С. 233-238. Transactions of the Kola Science Centre of RAS. Series: Engineering Sciences. 2024. Vol. 15, No. 1. P. 233-238. Рис. 2. Кривые ДСК: 1 (зелёная) — HfSiO 4 , 2 (красная) — 0 , 5 HfSi 0 4 - 0 , 5 Zr 0 ( 0 H) 2 , 3 (синяя) — ZrO(OH )2 и соответствующие им кривые ТГ (1', 2’, 3') Рентгеновские дифрактограммы исходных композиций (1 о наноразмерности порошков-прекурсоров (рис. 3а). Превращения, происходящие в композиционных смесях при нагревании на воздухе до температуры 1500 °С, показаны на кривых ДСК/ТГ (рис. 2). В первую очередь, это эндотермические эффекты, сопровождающиеся потерей массы и связанные с удалением воды из образцов и разложением H 2 SiO 3 , Hf(OH ) 4 и ZrO(OH )2 с образованием соответствующих оксидов. Эти процессы заканчиваются примерно до 400 °С. Далее наблюдаются экзотермические эффекты, которые не сопровождаются потерей массы и связаны, вероятно, с образованием и последующей кристаллизацией нанодисперсных HfSiO 4 и ZrO 2 . - x)HfSiO 4 - xZrO(OH )2 свидетельствуют 2Ѳ, град I---------1---------1---------1---------1---------1---------1-------------------1---------1---------1---------1---------1 10 20 30 40 50 60 70 2Ѳ,град Рис. 3. Рентгеновские дифрактограммы: а — исходных порошков ( 1 - x)HfSiO 4 - xZrO(OH) 2 ; б — образцов ( 1 - x)HfSiO 4 - xZrO 2 после обжига при 700 °С; в — образцов (1 - x)HfSiO 4 - xZrO 2 после обжига при 850 °С; для х = 0,0 (1), 0,2 (2), 0,5 (3), 0,7 (4), 0,8 (5), 1,0 (6) и штрих-диаграмма HfSiO 4 из базы данных ICDD-PDF б а в © Ковальчук Н. А., Осипов А. В., Мезенцева Л. П., 2024 235