Труды КНЦ вып.9 (ХИМИЯ И МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ вып. 1/2018(9) Часть 2)

7,0 о 6 ,0 5.0 4.0 ая ан В 3,0 2 ,0 1 ,0 0 ,0 Li Na ’= 2E-11x4 - 6E-08x3+ 6E-05x2 - 0.0249x + 7.6782 ■У= -6E-12x 4 + 1E-08x3- 2E-05x2+ 0.0073x + 0.499 —I_____ I_____ I_____ I_____ |_____ I_____ I_____ I_____ I_____|_____ I_____ I_____ I_____ I_____ |_____ I_____ I_____I_____ I_____ |_____ I_____ L 2 0 0 400 600 800 Расстояние от края, мкм 0 Рис. 3. Изменение концентрации натрия и лития в образце, фрагмент с линиями аппроксимации ЛА ИСП МС может быть применен при изучении состава покрытий и пленок. Нанесение покрытий на конструкционные материалы позволяет получить необходимые свойства их поверхности. Так, покрытия TaC и SiC, полученные на сталях методом бестокового переноса в расплавленных солях, придают материалу высокую коррозионную стойкость. Как следствие, возникает необходимость их химического анализа. На рисунке 4 изображен профиль покрытия (а) и профиль со следами торцевого прожига (в), а также кратеры, полученные в ходе послойного анализа (рис. 4, с, d). Толщина покрытий карбидов тантала варьировалась в зависимости от времени синтеза. В итоге проведен послойный анализ (от поверхности покрытия к подложке) и получен профиль покрытия в поперечном сечении (рис. 5, а, б). Анализ данных, представленных на рис. 5, показывает, что кроме тантала и углерода в нижние слои внедряется железо. с d Рис. 4. Профиль покрытия ТаС (а — сканирующий электронный микроскоп “LEO-420”, в — микроскоп “LEICA OM 2500 P” с камерой “LEICA DFC 290”). Внешний вид кратера (350 мкм) при послойном анализе покрытия ТаС на стали «У9», при мощности 75 % (с) и 100 % (d) — сканирующий электронный микроскоп “LEO-420” 697