Труды КНЦ вып.5 (ХИМИЯ И МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ вып. 5/2015(31))

обуславливающих интенсивность диффузионных процессов. В то же время в зернах больших размеров на атомно-силовом микроскопе в режиме PFM наблюдаются области, которые можно отождествить с доменной структурой (рис. 3 ), что свидетельствует о том, что данные образования обладают сегнетоэлектрическими свойствами. В образцах, синтезированных при более высоких температурах, размеры зерен однородны по всей площади поверхности. Их элементный состав соответствует спектрам 2, 3 и 7 (табл.). Если не учитывать крупных образований, возникающих в образцах, синтезированных при температуре 860оС, то размеры зерен в среднем увеличиваются с ростом температуры синтеза (рис. 1 ). Элементный состав (в весовых процентах) различных участков поверхности образца, синтезированного при 860оС Спектр (рис.2) O Ti Sr Zr Si Ge Cd Pb Итог 1 30.06 - - - - 4.74 28.14 37.07 1 0 0 . 0 0 2 26.99 3.62 2.32 14.81 - - - 52.26 1 0 0 . 0 0 3 28.67 3.75 2.54 15.82 - - - 49.22 1 0 0 . 0 0 4 30.54 - - - 2.91 4.92 25.60 36.03 1 0 0 . 0 0 5 23.76 - - - 3.00 4.21 29.71 39.31 1 0 0 . 0 0 6 31.90 - - - 3.03 4.94 23.49 36.64 1 0 0 . 0 0 7 28.36 3.50 2.78 14.85 - - - 50.51 1 0 0 . 0 0 Рис. 2. РЭМ-изображение поверхности образца ЦТС, спеченного при 860оС, с указанием областей в которых осуществлялся набор спектров. Масштабная метка 60 мкм а б Рис.3. АСМ- и PFM-изображения(а и б соответственно) образца ЦТС, спеченного при 860оС. Размер снимков 2 0 х 2 0 мкм 404