Влияние мощного радиоизлучения на ионосферу / АН СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : Кольский филиал АН СССР, 1979. – 164 с.

в) разрядвсходящейсясимметричнойсферическойволне: 2 п(г) = 1 - ( - І --------М , (10) 'thxr эег, (т'- расстояниедоцентра). Вовсехтрехслучаяхконцентрациямонотонноубываетсудале­ ниемотцентраразряда. Дляцилиндрическогоисферическогоразря­ довмаксимальноезначениеконцентрацииравнокритическому(пшах= 1 і ахарактерныйразмере спаданияL = Дляплоскослоистого разрядапІРахи L ^ависятотугласходимостиѲ плоскихволн; при малыхѲ:птах = « I, L = y|-- Положениевнешнейграницыраз­ ряда, котораявбездиффузионномприближенииявляетсяабсолютно резкой, ипоглощаемаяразрядоммощностьзависятотамплитудыпа­ дающейволны: сростомамплитудыграницаотодвигаетсяотцентра, адоляпоглощаемоймощностивозрастает, приближаяськ 100 $ (соот­ ветствующиеформулынетруднополучитьизусловийсшиванияполей награнице). Заметим, чтостационарныеплоскослоистыерешениясу­ ществуютлишьвтомслучае, когдаплоскиеволныпадаютнаразряд собеихсторон, аихамплитудыЕ 0 заключенывпределахЕс> Е 0 > Фо- Важныйслучайразрядавквазиоптическомволновомпучкеуда­ лосьпокапроанализироватьлишьнауровнекачественныхоценок. Основнымифакторами, компенсирующимисходимостьневозмущенного пучкаиобеспечивающимипостоянствоамплитудыполявобластираз­ рядавстационарномсостоянии(ІЕІ = Ес), являютсяпоглощениеи рефракцияволны. Этипроцессыснижаютвеличинуполявпучкедо требуемогоуровняЕсужепризначенияхконцентрации, многомень­ шихкритического(n « I ), поэтомупрямогоотраженияволныот плазмыразряданевозникаети"бегучесть" впучкесохраняется. Предполагая, чтопоперечныераспределенияполяиплазмывпучке характеризуютсянекимобщимразмерома, являющимсяфункциейпро­ дольнойкоординатыz, инеинтересуясьпрочимидеталямирадиальной структурыразряда, получаемдляописаниякачественнойзависимости a (z) следующеедифференциальноеуравнение: d ді _ 1 _ с /т*[Л d z l k 4 a 3 dz, причемконцентрацияэлектронов(точнее, е некотороеэффективное среднее п всечении z = const) даетсявыражением Первоеслагаемоевуравнении(II) учитываетпоперечнуюдиффузию поля(дифракционнуюрасходимость), второе - рефракцию. (І2) 68