Тонкая структура авроральных форм : оперативно-информационный материал / АН СССР, Кол. науч. центр, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1989. – 35 с.

э параметра Д . Это означает, что о возрастанием экранирования иона­ ми слоя электронов возрастает тенденция к появлению (в линейном ре­ жиме) вихрей с более короткими длинами волн. 3. Отсутствие СО^ea.£ означает нарастание волн. В процессе моделирования в широких пределах менялись соотноше­ ния Те / T t- , толщина слоя, величина магнитного поля, параметр Д , частота волны uia . Расчеты показали, что в зависимости от величи­ ны Д , т .е . от соотношения толщины ионного экрана и слоя зарядов, ионы могут играть разную роль в образовании деформаций в дуге (см. рис. 2 0 ) . На ранней стадии на­ растания неустойчивости ионы экранируют электрическое поле слоя электронов и определяют профиль электрического поля, обусловленного электронами. На более поздней стадии роста не­ устойчивости ионы играют важную роль в образовании складок, но не воздействуют активно на про­ цесс развития вихрей. Этот факт помогает разрешить описанное в работе Халлинана и Дэвиса / I / противоречие, которое состоит в том, что в складках наблюда­ ется вращение по часовой стрел­ ке, а сами складки связаны с наличием отрицательного заряда и, ние должно быть против часовой стрелки (наблюдатель смотрит против В ) . Объяснение заключа­ ется в том, что растягивание вращающихся против часовой стрелки на­ растающих вихрей в начальной стадии кажется вращением по часовой стрел'-е в более позднюю нелинейную стадию нарастания неустойчивости. Результаты расчетов, полученных в работе / 3 5 / , согласуются с теми на­ блюдаемыми фактами, что размеры складок примерно в 4 раза больше, чем вихрей, и складки, разрушаясь, образуют вихри. На рис. 21 из работы / 3 2 / показаны последовательные стадии формирования авроральных вихрей. ftic. 2 0. Зависимость величины наиболее неустойчивой моды от ве­ личины разделения зарядов д . Спло­ шная линия - теоретическая зависи­ мость, кружки - экспериментальные данные. 23

RkJQdWJsaXNoZXIy MTUzNzYz