Технические средства и программное обеспечение систем автоматизации научных исследований в геофизике / Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1982. – 124 с.

Р и с .7. Аппаратные функции СИСАМа с одноэлементной системой сканирования в зависимости от начальной настройки. Сплошной (или квазисплотной) спектр может быть записан только в том случае, если аппаратная функция имеет вид (а ). Однако функция вида (б ) дает возможность "вычесть" сплошной спектр. Разрешающая способность Разрешение прибора можно вычислять, пользуясь критерием Р^лея. За счет двойной дифракции и использования правого и левого порядков дифракции можно считать, что разрешение прибора равно учетверенному теоретическому разрешению решетки 4 R > На рис . 8 приведена запись желтого дублета натрия 5 8 9 0 и 58 96 А, при этом использовалась решетка 6 0 0 штр/мм при ширине 3 см. Вычис­ ленное значение разрешения достаточно хорошо совпадает с резуль­ татом, полученным экспериментально. Таким образом, в данной схе­ ме 3 —сантиметровая решетка заменяет 1 2 —сантиметровую. Ри с . 8 . Желтый дублет Ма ( 5 8 9 0 и 5 8 9 6 А ). Записан на СИСАМе с одноэлементной системой сканирования. 113