Технические средства и программное обеспечение систем автоматизации научных исследований в геофизике / Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1982.

Аппаратная функция При анализе данной схемы требуется несколько пересмотреть рассуждения, приводимые в литературе при выводе аппаратной функ ции СИСАМа. Действительно, построим дважды дифрагированные фронты для случая, когда дополнительное зеркало не имеет зазора с дифракционной решеткой. Станоивтся неясным вопрос, какой луч считать главным - тот, который падает на центр решетки, или тот, который дает для правого и левого порядков дифракции нулевую раз ность хода. Такая же ситуация возникла бы в схеме Конна при перекрытии половин решеток или в схеме 4д при покрытии половины решетки. Руководствуясь соображениями, лежащими в основе вывода аппарат ной функции интерференционных спектральных приборов, можно заклю чить, что данная схема является сугубо разноплечной с параметром разноплечности x Q (рис. 6 ). Аппаратная функция такого прибора в идеале имеет вид: А = s i n х c o s ( Xo + S ) t х где 5 — постоянная для всех длин волн (настроечная) раз ность хода. Если же между дополнительным зеркалом и решеткой существует не который зазор, то она становится такой же, как у СИСАМа с пере крытым центром зрачка. Следовательно, при использовании этой схе мы могут возникнуть амплитудные искажения при регистрации спект ральных интервалов, больших по величине, чем разрешаемый интер вал. На рис.7 приведены аппаратные функции, записанные на реаль ном приборе. Видно, что аппаратная функция в зависимости от на стройки меняет свой вид от _ s i n _ x (а ) до ,l ,- c o s „ х (б)> X X проходя все промежуточные случаи первоначальной настройки. Рис. 6 . К выводу аппаратной функции СИСАМа с одноэлементной системой сканирования. 1 12