Системы автоматизации геофизических исследований / ред. И. А. Кузьмин ; Акад. наук СССР, Кол. науч. центр, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1984. – 112 с.

Для света другой длины волнысоответствующиеточкиалертурыI не совпа­ дают; это означает, что интерференция навыходнойапертуре22 селективнапо длине волны. При периодическом измененииразностиходаинтерферирующих лу­ чей, что происходит при возвратно-поступательномдвижении отражающейпо­ верхности дополнительного зеркала 10 за счетпеременногонапряжениягенера­ тора 13, интенсивность выходящеголучасвета28 (рис.2 и4) даннойдлины волныпериодическиизменяется. Лучиисследуемого пучкасветасдлинойволн, близкойкдлиневолны настройки, такжебудутпроходитьчерезвыходную апертуру22 (рисЛ), ноихинтенсивностьнебу­ детмодулирована. Изучаемыйпучоксвета, прини­ маемыйприемникомизлучения24, которыйвходит врегистрирующееустройство23 (рис.1), содер­ житпеременнуюсоставляющую, определяемуюсве­ томданнойдлиныволны, ипостояннуюсоставля­ ющую,определяемуюпроходящимчерезвыходную апертуру22 светомсдругимидлинамиволн. Пе­ ременнаясоставляющая, избирательноусиливаемая селективнымусилителем25 ирегистрируемаяза­ писывающимустройством26, пропорциональнатоль­ коинтенсивностисветасданнойдлинойволны, что позволяетисследоватьспектральныйсоставсвета. Привращенииединогосканирующегозеркала15 относительнооси18 происходитсканированиепо спектру. Посколькулучи29 и30 (рис.2 и4) параллельныдругдругуиотражаются от общего сканирующегозеркала15 аналогичнымобразом, порядокинтерференции указанных пучковсветанеменяетсяпривозвратно-поступательномдвижении сканирующегозеркала15, причем произвольноевращениесканирующегозеркала приводиттолько к сканированиюпоспектруиликсдвигувыходящегопучкасве­ та28 (рис.2 и4) вплоскостиапертуры22 (рис.1). Этозначит, чтоосьвращенияобще­ госканирующегозеркала15 можетбытьпроиз­ вольнорасположенавпространстве, апорядок интерференцииопределяетсяавтоматически: жесткойсистемойдифракционнаярешетка7 - дополнительноезеркало10. Частотаифазамодуляциинезависятот длиныволныинтерферирующихлучейсвета29 и30 (рис.2), посколькусмещениеотражающей поверхностиII (рис.1) дополнительного зеркала10 на расстояние, равное1/4 расстояниямеждуштрихами решетки, приводит к изменению разностиходаинтерферирующихлучейнаполовинудлины волны в любой точке сканируемогоспектральногоинтервала. Этопозволяетпри­ менить синхронноедетектированиепринимаемогосигнала. РазрешениерассматриваемогоСИСАМанеменьшеучетверенноготеоретичес­ когоразрешенияиспользуемой дифракционнойрешетки7, таккакгеометри­ ческаяразностьходаскладываетсяодифракционнойразностьюходаинтерфери­ рующихлучей29 и30; геометрическаяразностьходаопределяетсязазороммеж­ дудифракционнойрешеткой7 идополнительнымзеркалом10, причемувеличение зазораувеличиваетразрешениеспектрометраиуменьшаетегосветосилу. Таким образом, дляполучениямаксимальнойсветосилыжелательнорасполагатьдопол- Рис.4. Частьоптической схемы, которая поясняетразде­ ление рабочего инулевогопо­ рядков дифракции. Рис.З. Часть принци­ пиальной оптической схемы прибора (ход лучей - для длины волны настройки). 82