Системы автоматизации геофизических исследований / ред. И. А. Кузьмин ; Акад. наук СССР, Кол. науч. центр, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1984. – 112 с.

2. МАКСЖ. Методыитехникаобработкисигналовприфизическихизмерения Т.2, М.» Мир, 1983, 255 с. Л. С. ЕВЛАШИН, А. И. ЛОПАТИН. Л. А ПЕТРУНЬКИН. М. А. ПЕТРУНЬКИН, С. А. ЧЕРНОУС, ' а М ШУЛТИН* О возможностях применения нового типа С И С А М для задач атмосферной оптики Длярегистрацииоптическихспектровполярныхсияний, ночногоисумереч­ ногонебадосихпоруспешноприменяютсящелевыеприборыиинтерферометры, собранныепоклассическимсхемам. Однакообщеизвестныенедостаткиэтихпри­ боров: малаявеличинапроизведения светосилынаразрешение L-R щелевыхпри­ боровималаяобластьсканирования(свободнойдисперсии)лл CBQ(3 интерферо­ метров сильнозатрудняютисследованиетакихдинамичныхислабосветящихся объектов, какимиявляютсяполярныесияния. Спектральныеприборывторогопоколения (фурье-спектрометр, спектрометр Жирара, спектрометрсинтерференционнойселективнойамплитудноймодуляцией- СИСАМ идругие) зпринципесвободныотуказанныхнедостатковтрадиционной спектральнойаппаратуры. Однаковсвоембольшинствеонигромоздкиисложныв эксплуатации. Неоднократнопредпринималисьпопыткиуменьшитьгабаритыэтих приборов, ноодновременносихуменьшениемпадалитакжезначениядА. своб и (или) L ■R ,чтопочтисводилонанетпреимуществатакихспектрометровперед традиционными/I/. В1974 годувЛенинградскомгосударственномуниверситетебылразработан новыйспектральныйприбор/2/. ОбладаявсемидостоинствамиобычныхСИСАМов, онимеетрядпреимуществ, позволяющихрассматриватьегокакновыйтипполево­ госпектрометра. Этотприборпортативен, веситнесколькокилограммов, устой­ чивквибрациям, допускаетоперативнуюнастройку/3/. Спектрометрсинтерференционнойселективнойамплитудноймодуляцией (СИСАМ) /4/ содержитвходнуюапертуруI (рис.1), установленнуювкорпусе2 инаходящуюсявфокальнойплоскостиинаоптическойосиколлиматора, которым являетсялинза3, укрепленнаявдержателе4. Полупрозрачноезеркало5 распо­ ложеномеждулинзой3 и входнойапертуройI изакрепленовдержателе6 под углом45° коптическойосилинзы3. Плоскаядифракционнаярешетка7 осимметрич­ нымиштрихами8, образующимие рабочуюповерхность, установленанаоснова­ ни 9 вкорпусе2. Дополнительноезеркало 10 являетсяпьезокерамическойем­ костьюсобкладкамиII и12, причемобкладкаII являетсяотражающейповерх­ ностьюзеркала10. ОбкладкиII и12 соединенысгенератором13 проводниками, проходящимисквозькожух2 черезизолятор14. Дополнительноезеркало10 такустановленоотносительнодифракционной решетки7, чтоегоотражающаяповерхностьII параллельнаштрихам8 дифракци­ оннойрешетки7 иперпендикулярнарабочейповерхностидифракционнойрешетки7; оптическаяосьлинзы3 проходитчерезцентррешетка7. Объединенное (общее) сканирующеезеркало15 сотражающейповерхностью 16 такжеустановленовкорпусе2. Онозакрепленонадержателе17, который можетвращатьсяотносительнооси18 спомощьювинта19 игайки20. Держатель 17 фиксируетсяпружиной21. 80