Шульгина Н. В. Схемы обработки сложных ионограмм / Шульгина Н. В. ; АН СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова ; Поляр. геофиз. ин-т. - Препринт ПГИ-86-02-44. - Апатиты, 1986. - 18 с.

к,км * W •о- S a LM . <1 С. Н 6 |,М ГЦ я в . 1 гэ - foS2 fx l k'F Типf 2.4 052В? 077—F 250 F 2.5 058-F 0680S 250 F 2.6 035Е& 045-& 230 F 2.4. Частотное рассеяние нередко достигает значительных размеров (> 1 ,0 МГц), тогда не­ возможно точно определить ни fo?2, ни +Х?2, а на f -графике .рисуется сплошная линия, указы­ вающая пределы рассеяния. При этом значение f X I определяется по высокочастотному краю следа рассеяния, a j- 0?2 согласно правилу точности отсчете опре­ деляют либо с . . . I / ? , либо с . . J3P, либо символ "Р" вместо числа. 2.5. Б случае, когда joFZ хорошо видна, а f*F2 невозможно определить из-за S (помех) или С (аппаратурный дефект), тогдв вычисляется по параметру fo l с добавлением I/ 2 f В, сопровож­ дая оценочным символом "О” и описательным символом, указы­ вающим причину косвенного опре­ деления, " S " или " С " - fxl-- (fol + i/ 2 fB)OSfC;. Если же fx£2 не отмечает­ ся из-за увеличения поглощевиг (^mia повышается при этом), то f x l вычисляется также по fo l с добавлением I/ 2 f В, сопрово*- дая символами "О" в "В ". 2.6. При условии &(foF2^fc>ny параметр f x l определяется по рассеянию f x ? I характеристики, сопровождая описательным симвг»- лом "G-". Если же наблюдается одна fo F I компонента, то как и для случая Р 2 слоя, по f o l слояР! fx l = ( f o l + 4/2f В) OB. 7