Шульгина Н. В. Схемы обработки сложных ионограмм / Шульгина Н. В. ; АН СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова ; Поляр. геофиз. ин-т. - Препринт ПГИ-86-02-44. - Апатиты, 1986. - 18 с.

2. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРА f x i И ТИПОВ'Р-РАССЕЯНИЯ. Наиболее распространенным видом рассеяния области ¥ являет­ ся частотное ( F ) . Оно наблюдается вблизи критических частот, при этом могут образоваться несколько следов, близко смещенных по частоте, но без увеличения высотного диапазона. Частотное Р-рас­ сеяние следует отмечать, когда оно составляет > 0,2 МГц на каж­ дой компоненте (исключая при этом ширину импульса). It, КМ i Ж . 2 6 ff*ru, т пп foK f *1 *ti Тип Р г 065-9 C779--F 250 ¥ 2.2 054—F 0660В 250 ¥ 2.3 05SDP 071QB 250 rj { 2.1. Численное значение fo P2 определяется по нижнему краю следа при однородном рас­ сеянии или по четкому следу обыкновенного луча. Это значе­ ние jo¥2 пишется в таолипу согласно правилам точности от­ счета частоты либо с буквой F, либо ...I/F . Параметр fxi от­ считывается по предельней час- f x P 2 . тоте рассеявия 2 . 2 . Известно, что X- компонентэ наиболее чувстви­ тельна дазе к небольшому увели­ чению поглощения, и это сразу отражается на величине рассея­ ния |х ?2 . Во избежание ошибки в этих случаях fxi следует определять по рассеянию fo¥ 2 , т.н. j o l параметру, с добавле­ нием 1/2 f-B, т.е. Ш * Щ $ ) О В . 2.3. При значительном рас­ сеянии, когда нет просвета меж­ ду компонентами, ^01 определя­ ют в точке, отстоящей от j%¥2 на ту же величину рассеяния, ка­ кая взята слева у J 0 P 2 , и тогда f x l = ( f o l + Ш В 1 0 В . н 1 6