Некогерентное рассеяние радиоволн в высокоширотной ионосфере / А. Л. Суни [и др.] ; Акад. наук СССР, Кол. науч. центр, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : [б. и.], 1989. – 182с.
Формула (8 8 ) справедлива, если -Ь £ 3 / 6 , 18/. В ионосфере это усло вие выполняется /24/, и при интерпретации результатов ионосферных измере ний приближение (8 8 ) является достаточным. Отметим, что полное сечение рассеяния (8 8 ) в изотермической плазме ( "t = 1 ) вдвое меньше сечения ( 8 2 ) , полученного для рассеяния на независимых электронах. Весьма упрощенную картину процесса рассеяния электромагнитной энергии в плазме можно получить с помощью привлекательных физических представле ний, лежащих в основе метода пробных частиц, разработанного М.Н.Розенблю- том и Н.Ростокером /25, 26/. По этому методу любая заряженная частица, рассматриваемая как пробный заряд, поляризует плазму и одевается экраниру ющим облаком, возникающим благодаря избытку зарядов противоположного зна ка и уменьшению заряда того же знака, что и у частицы. Поскольку для поля ризации плазмы требуется время, то вклад в экранирование дадут только те частицы, скорости которых порядка скорости пробного заряда. Для вычисления характеристик рассеяния достаточно просуммировать вклады от всех пробных частиц. Движущийся в плазме электрон вызовет смещение Соседних с ним электро» нов и не окажет практически никакого воздействия на медленные положительно заряженные ионы. Следовательно, движение электрона сопровождается движени ем облака пространственного положительного заряда, обусловленного образова нием электронной "дырки". Экранированный электрон нейтрален и представляет собой образование с равным нулю результирующим электронным зарядом. По этому рассеяние на экранированных пробных электронах оказывается очень слабым. С другой стороны, медленно движущиеся ионы приводят к смещению как соседних электронов, так и ионов. В этом случае эффекты экранирования напо ловину связаны с ионами и наполовину - с электронами. Пробный "одетый" ион также является нейтральным образованием, но содержит половину ионного и половину электронного заряда. Следовательно, рассеяние такой системой со ответствует рассеянию, обусловленному примерно половиной эффективного элек тронного заряда, который движется со скоростью иона и вместе с тем обнару живает характерные свойства электронного заряда. Эффективное число экрани рующих электронов в плазме примерно вдвое меньше, чем их имеется в среде. Поэтому полное сечение рассеяния будет вдвое меньше, чем в случае рассея ния на свободных электронах. Так как экранирующее облако следует за ионом, то в спектре рассеяния отражается доплеровский сдвиг, обусловленный движе нием иона. Конечно, в случае быстрых ионов эффект экранировки от других ионов может составить меньше половины суммарного эффекта экранировки, и в резу льтате быстрые ионы могут привести к более сильному рассеянию, чем мед ленные. Последнее обстоятельство объясняет, почему доплеровский сдвиг час тоты волн, рассеиваемых плазмой, не описывается простым гауссовым распре делением, которое можно было бы ожидать, исходя из максвелловского распре деления частиц по скоростям. Приведенные соображения показывают, что рассеяние больших длин волн в плазме существенно отличается от рассеяния на свободных электронах. Кро ме того, в этом случае рассеяние существенно зависит от частоты, отражая тот факт-, что в плазме кроме хаотических флуктуаций существуют флуктуации плотности, связанные с наличием специфических электромагнитных колебаний (плазменных волн), на которых происходит рассеяние радиоволн. На рис.4 приведена схематически зависимость спектрального распределе ния рассеянного излучения ф от частотного сдвига W для рассмотренных выше предельных случаев больших (сплошные кривые) и малых (штриховая кривая) длин волн. Для отрицательных со спектральная функция не приводит ся, так как в отсутствие направленных движений заряженных частиц плазмы она симметрична относительно нулевого смещения частоты. Штриховая кривая описывает процесс рассеяния на свободных электронах. Сплошные кривые ха рактеризуют процесс рассеяния не только на заряженных частицах плазмы, но и на ионно—звуковых и плазменных колебаниях. 28
Made with FlippingBook
RkJQdWJsaXNoZXIy MTUzNzYz