Мизун Ю. Г. Динамика полярной ионосферы / Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Апатиты : Кольский филиал АН СССР, 1986. – 140 с.

рации. Обычноизмеренияпроводятвтечениеопределенногоинтервалавремени, закоторыйданныеизмеренийусредняютирассчитываютэлектронныепрофили. Впервыегодыэтипериодысоставлялиединицыидажедесяткиминут. Поэтим даннымможнобылоговоритьтолькоонекоторыхсреднихзаэтотпериодхарак­ теристикахнижнейионосферы. Поэтомуметодпостепенносовершенствовалсяв сторонууменьшенияэтогоинтервалавремени. Сейчаснаустановкечастичныхот­ раженийвНорвегии, например, этотинтервалсокращендодолейсекунды. Это даловозможностьполучатьинформациюобыстротечныхдинамическихпроцессах внижнейионоофере. Нарис.І27 показаноизменениеосновныхпараметров, которыеиспользуются дляопределенияэлектроннойконцентрациикакфункциивысоты. Этиданныепо­ лученынаустановкечастотныхотраженийвНорвегии. Видно, чтовеличинаам­ плитудывдиапазоневысотот50 до90 кмизменяетсявдиапазоне І03-І0^. Ус­ тановкапозволяетрегистриро­ ватьотраженияотразныхвы­ сотсшагомводинкилометр. Нижнийуровень, откоторого ещерегистрируютсяотражения, находитсянавысоте 30-40 км. Обычнообрабатывают 100- 1000 сеансовизмеренийиэти данныеизмеренийусредняют. Внижнейчастиобласти D Ах/А0 Rx/R0 так к л .ве­ личинаэлектроннойконцентра­ циинаэтойвысотеоченьмала5 ионаневноситсущественного вкладавдифференциальноепо­ глощение. Сростомвысоты концентрацияэлектроновие влияниенадифференциальное поглощениеувеличивается. Поэтомуотношение А%/А 0 будет отличатьсяототношенияRx/R0* Чтобырассчитатьэлектронную концѳнтрацию, необходимо иметьинформациюоградиентах Ax/Aq посравнениюсRx/R0» Нарис.127 показаноизменение современенэтихотношений. Шагповысоте, какужегово­ рилось, равен I км. Тамже. показанакриваяизменения котораяиспользуетсяприрасчетах электроннойконцентрации. Точностьрасчетаэлектроннойконцентрациибольшенатехвысотах, где этакриваяимеетминимум. Нарис.128 этоимеетместонавыоотеоколо70 км. Навысотахзначительнониже70 кмнеобходимоиметьдостаточнобольшуюэлект­ роннуюконцентрацию, чтобыметодмогбытьприменен. Всамомнивунарис.128 покаэанрассчитанныйэлектронныйпрофильнавысотах54-78 км, приэтомточ­ ность, окотороймогутбытьопределенызначенияэлектроннойконцентрации, составляет~ 20$. 50 60 70 вО км Рис.127. Изменениеосновныхпараметров, наоснованиикоторыхвычисляетсяэлектронная концентрацияметодомчастичныхотражений. 116