Метод некогерентного рассеяния радиоволн / Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Ленинград : Наука, Ленинградское отделение, 1979. – 186 с.

по данным IIP (рис. 3.23). Па дневной ионограмме видны все три основных ионосферных слоя: Е, Fl и F2. 11а электронном профиле, полученном методом ПР, слой F1 проявляется в виде максимума концентрации, за которым следует лишь едва замет- Рис. 3.22. Ход электронной плотности (10 5 с.\С 3 ) ио высоте 120 км, а также плотности, электронной и ионной темпера ­ тур на высоте 300 км. В верхней части рисунка — ход вертикальной скорости плазмы (м/с) и зенитные углы, внизу — местный К-индекс [55 J. ный минимум. Впрочем, в данном случае разрешающая способ ­ ность метода ПР по высоте недостаточна, чтобы уверенно иссле ­ довать сравнительно тонкий провал между слоями. По мнению авторов, минимум между слоями F1 и F2 наблюдался довольно часто. Сопоставление ионограмм с профилями показало также до ­ вольно сильное различие между действующей и действительной 142