Математическое моделирование комплексных процессов / Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Вычисл. центр ; [редкол.: В. С. Мингалев (отв. ред.) и др.]. - Апатиты : Кольский филиал АН СССР, 1982.

100 '— •— ■ ■ — -- ------- т —----—у— 6 -50 -WiD'20-W 0 10 * Л Г Л Г X w / C Л/, с * 3 Рис. 6 . Профили N и V в момент t 1 0 мин при различных Е 0 для достигающего 1 0 ® см- 2 с ~1 потока электронов Io ( t ) . 700 h,KH f о ф / V — / / / » ( / , . £ / • / ' / ' J * » V IГ / ' /* I. / ' tfl- C Z 1 ,'j / / /0 -50 0 5» /ДО Ѵ,м/с N.Cfi Рис.7. Эволюция профилей N и V изменении достигающего величины ю Ю см"^с потока электронов IQ ( t ) при ) - 2 - 1 для случая Е 0 = 1 кэВ. На рисунках 7 и 8 приведены результаты для потока I 0 ( t ) , достигающего 1 0 ^® см- ^с“ 1 . Из сравнения высотных профилей N видно, что потоки авро ральных электронов создают дополнительную ионизацию в нижней части ионосферы, максимум которой находится между 1 0 0 и 3 0 0 км. Когда поток авроральных частиц мал, между максимумами ионизации образуется "долина", которая тем ярче выражена, чем больше начальная энергия электронов. В ряде случаев максимум F 2 -слоя вообще исчезает, главный максимум ионизации находится ниже 3 0 0 км, а выше его значения концентрации монотонно умень шаются, что совпадает с ранее полученными результатами / 2 /. 81