Каталог профилей электронной концентрации в высокоширотной ионосфере, полученных методом частичных отражений. Сравнение с результатами теоретической модели Д-области ионосферы / Н. В. Смирнова [и др.] ; Акад. наук СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Препр. ПГИ-87-02-56. - Апатиты : Кольский филиал АН СССР, 1988.

"Энергетическийбюджет" вСевернойСкандинавиивпериодыавроральных поглощений 16 и28 ноября1980г. /8/ . Источникиошибокметодачастичныхотраженийприизмеренияхв возмущенныхусловиях Врядеисследований /16-18/ , посвященныхиспользованиюметода частичныхотраженийдляизмеренияэлектроннойконцентрациивнижней ионосфере, обсуждалисьисточникибольшихошибоквданныхэтогометода приизмерении Np ввозмущенныхусловиях. Так, в /16/ приводятсяре зультатыизмеренийпрофиляэлектроннойконцентрацииметодомчастичных отраженийнадвухчастотах(2.66 МГци6 .275 МГц)вОттавевовремя SID I марта 1962 г. (рис. 13а) иотмечаетсясовпадениепрофилей на малыхвысотах, нозначительныерасхождениявверхнейчастипрофилей. Характерно, чтоданные, полученныенабольшейрабочейчастоте,согла суютсяспоказаниямиреометра. Аналогичнаяситуациянаблюдаетсядля случаяслабоговозмущения30 марта 1966г. приизмерениинадвухчасто тах2.66 МГци4.21 МГц (рис. 136). Автора /16/ объясняюттакиерас хождениянабольшихйысотахсуществованиемнаклонныхотражений, кото рыенаиболеезначительныввозмущенныхусловиях иприработе нанизкихчастотахмогутдаватьсистематическоезанижениеэлектронной концентрациинабольшихвысотах. Нанеобходимостьувеличениярабочих частотдо4-6 МГцприизмерениианомальнойионизациивД-области ионосферыуказываетсятакжев/14/ . Ввозмущенныхусловияхизменчиваяприродачастично-отраженныхсиг наловвД-областииболеевысокоепоглощениенеобыкновеннойкомпонен тынакладываютсерьезныеограничениянавысоты, накоторыхмогутбыть полученыразумныезначенияэлектроннойконцентрации /17/ . Согласно /17/?всильновозмущенныхусловиях (при.показанияхреометра4-5 дБ) достаточнонадежныеданныемогутбытьполученылишьвинтервалевысот 10-15 км. Вэтихусловияхпринимаемыесбольшихвысотамплитудыобы кновеннойинеобыкновеннойкомпонентчастостановятсянекоррелирован ными^ оценкиихотношенийизданныхдлявыведения уженеимеют смысла. Рассмотренныйавторами /14/ эффект "пролезания”, связанныйсне полнымразделениеммагнитоионныхкомпонентваппаратуре становится приизмеренияхввозмущенныхусловияхособоопаснымвследствиебольшой разнииымеждуамплитудаминеобыкновеннойиобыкновеннойкомпонент,ко тораявозникаетврезультатебольшегопоглощениянеобыкновеннойкомпо нентыпривысокихэлектронныхконцентрациях. Вэтомслучаеэффект "пролезания" приводитксистематическомузанижениюистиннойвеличины электроннойконцентрации. 8