Геофизические явления в авроральной зоне: [сборник статей]. Ленинград, 1971.

Аномальная ионизация в нижней ионосфере сопровождается обычно возмущениями магнитного поля, причем по наблюдениям в Мурманске [1, 2] в период МГГ 50% магнитных бухт сопрово­ ждается увеличением предельных частот спорадических слоев, f t E s и 25% — полным поглощением, блэкаутами. Во время блэк- аута, к сожалению, по данным ионозонда невозможно определить состояние ионизации в области Е. Исследование связи f t Es и / ш1п в то время, когда поглощение повышенное, но неполное, показы­ вает, что f t Eg увеличивается в периоды повышенного поглоще­ ния [3]. На основании имеющихся экспериментальных данных не всегда можно однозначно определить высоту поглощающей об­ ласти. Сигнал радиозонда, идущий снизу вверх, проходит сна­ чала область D и может полностью потерять свою энергию, не дойдя до области Е. Поэтому аномальная ионизация, существу­ ющая в области Е , может не оказать влияния на поглощение, отмечаемое ионозондом, независимо от ее величины. При измере­ нии космического радиошума сигнал проходит все ионосферные слои и каждый из них дает свой вклад в общее поглощение. Можно оценить, Какова величина поглощения, вносимая спо­ радическим облаком при прохождении через него сигнала кос­ мического радиошума. Неотклоняющее поглощение на частоте / определяется по формуле А = і <*) где ш=2 эх/ — круговая частота, на которой измеряется поглоще­ ние; ш£ — продольная гирочастота; N — электронная плотность; ѵ — эффективная частота столкновений. Д л я спорадических слоев с групповым запаздыванием (типа г) можно рассчитать N (й)-профиль, если учесть величину иониза­ ции нижележащего слоя [4]. После этого используем для расчета обычный ручной десятиточечный метод [5]. Таким образом было рассчитано 25 N (й)-профилей по ионограммам мурманского ионо­ зонда для 1958 г. Некоторые из них показаны на рисунке. Мак­ симальная ионизация всех рассчитанных спорадических слоев лежит в пределах ( 1 - ^ - 1.7)105 эл./см3. Все профили гораздо сильнее отличаются между собой по высоте максимума hm, чем по величине ионизации в максимуме N m. Параметры рассчитан­ ных N (й)-профилей слоя E s типа г приведены в табл. 1, Д0 s= = h m — h0 5 , где h0 5 — высота, на которой электронная плотность N = 0 . b N m. Параметр Д0 5 определяет толщину слоя и, как видно из табл. 1, имеет четкую зависимость от высоты: чем больше высота, на которой образуется максимум, тем толще слой. Т ак ая же зави­ симость получается и для высоты максимума слоя F2 [6]. Д л я всех рассмотренных слоев параметр Д0 в близок к другому параметру — высоте однородной атмосферы Н — на высотах, соответствую- И