Белоглазов, М. И. Распространение сверхдлинных радиоволн в высоких широтах / М. И. Белоглазов, Г. Ф. Ременец ; АН СССР, Кол. фил. им. С. М. Кирова, Поляр. геофиз. ин-т. – Ленинград : Наука, 1982.

Рис.1.22. Профиль электронной концентрации и его доверительная область, полученные решением обратной задачи для состояния ионосферы через 15 мин после вспышки на Солнце 30 I 1968, 13.30 M S T (т, = 6) [9 7 ]. Однако обсуждение методики решения обратной задачи нельзя на этом заканчивать. Автор работы [ 97 ] при численном анализе столкнулся с тем обстоятельством, что в рамках данного фиксиро ванного количества и качества экспериментальных данных нельзя неограниченно увеличивать детализацию наших знаний о профиле N р ( Z ) по высоте (т .е . нельзя неограниченно увеличивать число опорных высот), оставаясь в неизменной дорожке доверительных интервалов профиля электронной концентрации. Наиболее полно и математически последовательно эта особенность как обратной СДВ- задачи, так и некоторых других геофизических обратных задач [102 ] проанализирована в [98 , ЮЗ]. В профиле A/g ( 2 ), отыскиваемом по СДВ-данным, следует различать два вида погрешностей. Во-первых, в нем отсутствует тонкая структура реального профиля. В результате решения обрат ной задачи получаются не истинные значения /Vg ( z ), а оценоч ные, получаемые некоторым усреднением по некоторому интервалу высот. Величина этих минимально возможных интервалов, завися щая от Z , может быть названа разрешающей способностью мето да. Во-вторых, в определяемом N q ( z ) присутствует погрешность, порожденная погрешностями исходных данных. Назовем ее главной погрешностью. Разрешающую способность и главную погрешность для профиля Л/g ( Z ), который получается из решения обратной задачи, позволяет определить метод Бакуса и Гильберта [ЮЗ]. Пусть N g0) ( z ) -профиль обеспечивает равенство расчетных Cfn и измеренных величин R n . Изменение этого профиля на малую величину SN ( z ) вызывает следующие изменения величин ; 2В 8 д п = J K n ( z ) 8 N ( z ) d z , U.92) z n где Kn (Z ) - функции чувствительности измеряемых Яп -вели чин к малым локальным изменениям Л/g ( Z ). Примеры таких функций уже приводились на рис.1.20.* Равенства (1.92) - прибли* В работе [98 ] функции чувствительности Kn ( Z ) отыски вались по четырем линейно независимым решениям системы (1,73) 62